2004放射線利用 「宇宙線ミュオン」が電子機器の誤作動を引き起こす
J-PARC物質・生命科学実験施設(MLF)のミュオン実験装置MUSEにて、半導体デバイスに対するミュオン照射試験を行い、正ミュオンに比べて負ミュオンの方がメモリ情報のビット反転の発生確率が高くなることを実験的に初めて明らかにした。
2004放射線利用
0109ロボット
0505化学装置及び設備
1700応用理学一般
0502有機化学製品
1900環境一般
2004放射線利用
1700応用理学一般
0505化学装置及び設備
0105熱工学
1900環境一般
1700応用理学一般