包装シール欠陥をリアルタイム検査するOCTシステムを開発 （Early Detection of the Smallest Defects）

フラウンホーファー非破壊試験研究所（Fraunhofer IZFP）は、材料や部品に発生する極めて微小な欠陥を早期に検出する高感度な非破壊検査（NDT）技術を開発した。航空宇宙、自動車、エネルギー設備などでは、微細な亀裂や内部欠陥を初期段階で発見することが、安全性の確保や保守コスト削減に不可欠である。新技術は、高性能センサーと高度な信号処理、AIを活用したデータ解析を組み合わせることで、従来は検出が困難であった初期損傷や材料内部の微細な異常を高精度に識別できる。さらに、非接触・非破壊でリアルタイムに検査できるため、製造工程での品質管理や設備の状態監視（Structural Health Monitoring：SHM）にも適用可能である。これにより、重大な故障が発生する前に補修や交換を計画でき、設備の信頼性向上、保守の効率化、ライフサイクルコストの低減が期待される。本技術はデジタル化・自動化された次世代検査システムとして、産業インフラの安全性向上と予知保全の実現に貢献する。