欠陥検出

包装シール欠陥をリアルタイム検査するOCTシステムを開発（Early Detection of the Smallest Defects）

2026-08-03 フラウンホーファー研究機構フラウンホーファー非破壊試験研究所（Fraunhofer IZFP）は、材料や部品に発生する極めて微小な欠陥を早期に検出する高感度な非破壊検査（NDT）技術を開発した。航空宇宙、自動車、エネル...

2026-08-04

0110情報・精密機器