2019年04月17日一覧

半導体量子ビットの量子非破壊測定に成功

半導体量子ドットデバイスにおいて、電子スピン量子ビットの量子非破壊測定に成功し、半導体量子コンピューターの必須要素である「量子ビットの低エラー読み出し」と「量子エラー訂正」の実現に道筋を示した

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