可視光用半導体撮像素子

0400電気電子一般

可視光用撮像素子を用いた中赤外線レーザーのビーム径計測技術を開発~発想の転換により計測装置を小型・低コスト化、材料加工や先端医療に貢献~

2022-08-31 産業技術総合研究所 ポイント 目に見えない中赤外線レーザーのビーム径を可視光用半導体撮像素子で計測する技術を開発 熱励起電子を信号源としてとらえ、その分布画像から中赤外線レーザーのビーム径を推定 小型・低コスト化により...
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