0403電子応用 単一電子が半導体チップに与える損傷を説明する新モデル（New model explains how single electrons cause damage inside silicon chips）
2026-04-14 カリフォルニア大学サンタバーバラ校（UCSB）米国のカリフォルニア大学サンタバーバラ校の研究チームは、単一電子がシリコンチップ内部で損傷を引き起こす仕組みを説明する新モデルを提案した。半導体デバイスでは微小スケールでの...
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