0110情報・精密機器 ナノテク計測を混乱させる一般的誤差を補正する手法を開発（NIST Researchers Correct Common Error Confounding Nanotech Measurements）
2026-08-06 米国国立標準技術研究所（NIST）米国国立標準技術研究所（NIST）の研究チームは、ナノテクノロジー研究で広く用いられる原子間力顕微鏡（AFM）などのナノスケール計測において、多くの研究で見落とされてきた測定誤差の原因...
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