2025-01-16 オークリッジ国立研究所 (ORNL)
ORNL researchers have developed an Autonomous Configurable Component Evaluation Power Test platform, called ACCEPT, enabling automated characterization of semiconductor devices. Credit: Alonda Hines/ORNL, U.S. Dept. of Energy
オークリッジ国立研究所（ORNL）は、新たな自動化テストプラットフォーム「ACCEPT」を開発し、半導体デバイスの性能評価を迅速かつ精密に行う能力を提供しています。この技術は、最大10,000ボルトまたは2,000アンペアの条件下で半導体をテストし、従来の時間を大幅に短縮して膨大なデータを収集します。電力電子における応用が期待されるこのシステムは、研究者や企業が製品の性能を迅速に評価し、多様な用途への適合性を確認する支援をします。
＜関連情報＞
