0403電子応用 半導体製造プロセスで発生する微小な欠陥の検出精度を高める画像解析技術を開発～ AIの活用によりデバイス微細化に伴う課題を解決し、お客さまの生産性向上と品質管理に貢献～
2024-02-26 株式会社日立製作所 日立は、半導体デバイスの製造工程で発生する微小な欠陥の検出精度向上をめざし、AIを活用した画像解析技術を開発しました。SEM*1式の半導体欠陥検査装置では、デバイス表面に電子線を走査しながら二次電子...
2024-02-26
0403電子応用 
1700応用理学一般 高エネルギーX線の非常に明るいサブマイクロビームを形成 ～厚い金属試料内部のマイクロ領域が観察可能に～
2024-02-22 高輝度光科学研究センター,理化学研究所 高輝度光科学研究センター ビームライン技術推進室の小山貴久主幹研究員、湯本博勝主幹研究員、大橋治彦室長、理化学研究所 放射光科学研究センター SACLAビームライン基盤グループの...
1700応用理学一般 層状化合物超伝導体に電子が織りなす「鱗文様」
2024-02-26 物質・材料研究機構,東京理科大学 NIMSと東京理科大学からなる研究チームは、層状化合物二セレン化ニオブ (NbSe2) が極低温で示す電子密度の周期パターンに、鱗 (うろこ) 文様のような互い違いの三角形構造が織り込...
1702地球物理及び地球化学 能登半島東方沖の海底で大規模な斜面崩壊の痕跡を確認
2024-02-22 海上保安庁 海上保安庁では、2 月 2 日から 8 日にかけて能登半島東方沖の海底地形調査を実施しました。今回取得した海底地形と過去の海底地形を比較した結果、能登半島東方沖の海底谷の斜面が大規模に崩壊していることが分か...