半導体製造装置

ウェハの位置・方向が正確に測定できるアライメント計測システムの高精度化を実現しました ―高性能な先端半導体製造プロセスの歩留まり向上に寄与します― 0110情報・精密機器

ウェハの位置・方向が正確に測定できるアライメント計測システムの高精度化を実現しました ―高性能な先端半導体製造プロセスの歩留まり向上に寄与します―

2026-07-29 新エネルギー・産業技術総合開発機構NEDOとニコンは、先端半導体製造におけるウェハの位置や方向を高精度に測定するアライメント計測システムを開発し、次世代計測技術に必要な要素技術を確立した。新たに、可視光から近赤外光まで...
最先端構造トランジスタを試作可能な共用プロセスを独自開発~300 mmウエハーの共用パイロットラインで新規装置・材料の技術検証が可能に~ 0107工場自動化及び産業機械

最先端構造トランジスタを試作可能な共用プロセスを独自開発~300 mmウエハーの共用パイロットラインで新規装置・材料の技術検証が可能に~

2025-11-05 産業技術総合研究所Web要約 の発言:産業技術総合研究所は、NEDO支援のもと東京エレクトロン、SCREENセミコンダクター、キヤノンと共同で、最先端ロジック半導体向けゲートオールアラウンド(GAA)構造トランジスタを...
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