層厚を制御した人工強磁性細線の作製に成功~人工強磁性細線を利用した大容量メモリや磁気センサ開発へ道筋~

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2025-03-24 岐阜大学

岐阜大学大学院自然科学技術研究科の研究グループは、名古屋大学、早稲田大学、京都大学と共同で、層厚を制御した多層構造の人工強磁性細線の作製に成功しました。この細線は、二浴電析法と細孔ナノテンプレートを用いて作製され、最小で約3.5nmの層厚を実現しています。さらに、1本の人工強磁性細線の磁気抵抗測定により、層厚が薄くなるほど磁気抵抗比が増大することが確認されました。この成果は、次世代の大容量磁気メモリや高感度磁気センサの開発に寄与するものと期待されます。

<関連情報>

ナノポーラスポリカーボネート膜中でデュアルバス電着により作製したCo-Pt合金多層ナノワイヤーにおける層厚の人工的制御 Artificial control of layer thickness in Co-Pt alloy multilayer nanowires fabricated by dual-bath electrodeposition in nanoporous polycarbonate membranes

Rio Kawana, Natsuko Oguchi, Daiki Oshima, Michiyuki Yoshida, Takashi Sugiura, Mikiko Saito, Takayuki Homma, Takeshi Kato, Teruo Ono, Mutsuhiro Shima
Applied Physics Express  Published: 20 March 2025
DOI:10.35848/1882-0786/adbcf6

層厚を制御した人工強磁性細線の作製に成功~人工強磁性細線を利用した大容量メモリや磁気センサ開発へ道筋~

Abstract

We have successfully controlled the layer thickness in Co-Pt alloy multilayer nanowires with a diameter of approximately 130 nm through dual-bath electrodeposition into nanoporous polycarbonate templates. The Co-Pt alloy multilayer nanowires were found to have compositions of cobalt-rich (Co71Pt29) and platinum-rich (Co13Pt87) for various layer thicknesses ranging from 3.3 to 427 nm, as confirmed by scanning electron microscopy (SEM) and transmission electron microscopy (TEM) observations. Both X-ray diffraction (XRD) and TEM analyses revealed a face-centered cubic (FCC) alloy phase corresponding to the Co-Pt alloy in each layer. We could measure the increasing magnetoresistance (MR) ratio by reducing the layer thickness and demonstrate MR measurements resulting from domain wall motion.

0403電子応用
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