2004放射線利用 「宇宙線ミュオン」が電子機器の誤作動を引き起こす
J-PARC物質・生命科学実験施設(MLF)のミュオン実験装置MUSEにて、半導体デバイスに対するミュオン照射試験を行い、正ミュオンに比べて負ミュオンの方がメモリ情報のビット反転の発生確率が高くなることを実験的に初めて明らかにした。
2004放射線利用
0105熱工学
0404情報通信
0403電子応用
1701物理及び化学
1702地球物理及び地球化学
1902環境測定
0501セラミックス及び無機化学製品
0703金属材料
1700応用理学一般