0403電子応用 非破壊で次世代パワーデバイス材料の結晶欠陥を検出できる技術を開発
ラマンマッピング像から窒化ガリウム(GaN)半導体結晶の欠陥を検出する技術を開発した。
0403電子応用
0403電子応用
0403電子応用
0403電子応用
0403電子応用
0403電子応用
0403電子応用
0403電子応用
0403電子応用
0403電子応用
0403電子応用
0403電子応用