0403電子応用 電子顕微鏡が半導体の「マウスバイト」による欠陥を可視化 (Electron microscopy shows ‘mouse bite’ defects in semiconductors)
2026-03-02 アメリカ合衆国・コーネル大学コーネル大学の研究チームは、高分解能電子顕微鏡を用いて、半導体内部に形成される「マウスバイト欠陥」と呼ばれる微細欠陥構造を詳細に可視化することに成功した。マウスバイト欠陥は、材料表面や界面に...
結晶欠陥
0403電子応用 
0102材料力学 材料強度における欠陥の役割を解明 （Obstacle or Accelerator? How Imperfections Affect Material Strength）
2026-02-16 ジョージア工科大学米ジョージア工科大学（Georgia Tech）の研究チームは、材料中の「欠陥」が強度に与える影響を詳細に解析した。従来、結晶中の転位や不純物などの欠陥は材料強度を低下させる要因と考えられてきたが、本...
1700応用理学一般 ミリメートルサイズの結晶にテラバイト規模のデータを格納 (Terabytes of data in a millimeter crystal )
2025-02-14 アメリカ合衆国・シカゴ大学A crystal used in the study charges under UV light. The process created by Zhong Lab could be us...