1603情報システム・データ工学 半導体デバイスの「逆問題」をミリ秒で解く手法を開発ー多値性を持つパラメータ空間でも、物性値を高精度に逆推定ー 2026-06-17 東京科学大学東京科学大学（Science Tokyo）、横浜市立大学、台湾国立中山大学などの共同研究グループは、半導体デバイスの測定結果から材料内部の物性値を逆算する「逆問題」を、1ミリ秒未満で高精度に解く機械学習手法... 2026-06-17 1603情報システム・データ工学
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