半導体デバイス

高輝度放射光で解き明かすシリコン酸化膜の成長過程 ~ナノデバイスの世界を支配する界面欠陥とキャリア捕獲~ 0403電子応用

高輝度放射光で解き明かすシリコン酸化膜の成長過程 ~ナノデバイスの世界を支配する界面欠陥とキャリア捕獲~

2022-12-19 日本原子力研究開発機構,東北大学,福井工業高等専門学校 【発表のポイント】 半導体デバイスの作製には、酸化反応を制御し、欠陥の少ない良質なシリコン酸化膜を作製することが不可欠。しかし、ナノレベルの薄膜領域におけるシリコ...
EUVリソグラフィの性能を向上する露光モジュールを開発 0403電子応用

EUVリソグラフィの性能を向上する露光モジュールを開発

産学共同実用化開発事業NexTEPの成果 2018/12/04  科学技術振興機構,大阪大学 ,東京エレクトロン九州株式会社 ポイント 最先端半導体デバイス製造のための極端紫外線(EUV)リソグラフィでは、露光光源強度不足で生産性が低く、高...
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