トランジスタ欠陥評価

トランジスタの欠陥を検出する技術を復活させ、改良を加えた(NIST Researchers Resurrect and Improve a Technique for Detecting Transistor Defects) 0403電子応用

トランジスタの欠陥を検出する技術を復活させ、改良を加えた(NIST Researchers Resurrect and Improve a Technique for Detecting Transistor Defects)

2022-02-03 米国国立標準技術研究所(NIST)従来の手法に新たな息吹を吹き込み、電流測定の新たな基準となる可能性があります。米国国立標準技術研究所(NIST)の研究者たちは、スマートフォンやコンピュータなど現代の電子機器の構成要素...
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