AI再構成

AI技術でボケのない高精細X線顕微鏡画像を実現 ~試料を面内回転させレンズ由来のボケを分離、再構成~ 0110情報・精密機器

AI技術でボケのない高精細X線顕微鏡画像を実現 ~試料を面内回転させレンズ由来のボケを分離、再構成~

2024-12-02 名古屋大学名古屋大学大学院工学研究科の松山 智至 教授(兼:大阪大学大学院工学研究科招へい教授)、栗本 晋之介 博士前期課程学生(研究当時)、井上 陽登 助教、理化学研究所放射光科学研究センターの矢橋 牧名 グループデ...
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