飛行時間二次イオン質量分析（ToF-SIMS）

複雑なToF-SIMSのデータ解析を生成する新しいソフトウェアツール(New Software Tool Generates Data Analysis for Complex ToF-SIMS)

2024-06-20 パシフィック・ノースウェスト国立研究所(PNNL)飛行時間二次イオン質量分析（ToF-SIMS）は固体表面の組成を特定するための技術ですが、得られるスペクトルは複雑で解釈が難しいことが多いです。これを解決するため、Py...

2024-06-26

1700応用理学一般