飛行時間二次イオン質量分析（ToF-SIMS）

2024-06-20 パシフィック・ノースウェスト国立研究所(PNNL) 飛行時間二次イオン質量分析（ToF-SIMS）は固体表面の組成を特定するための技術ですが、得られるスペクトルは複雑で解釈が難しいことが多いです。これを解決するため、P...