金属張誘電体基板

ポスト5 G・6 Gの材料開発に向け、誘電体基板の温度特性を計測する技術を確立 0403電子応用

ポスト5 G・6 Gの材料開発に向け、誘電体基板の温度特性を計測する技術を確立

高周波回路などに使われる金属張の誘電体基板に対し、誘電率と導電率の温度特性を10 GHz~100 GHz超の超広帯域で計測する技術を確立した。温度制御を可能にした超広帯域動作の共振器を開発することにより、これまで未確立であった、室温から100 ℃までの温度域での超広帯域のミリ波帯材料計測を実現した。
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