軟X線吸収分光(XAS)計測

水溶液中の金属錯体の電子状態と配位構造を解明する新手法を開発~軟X線吸収分光計測による配位子側からの詳細な解析を実現~ 0500化学一般

水溶液中の金属錯体の電子状態と配位構造を解明する新手法を開発~軟X線吸収分光計測による配位子側からの詳細な解析を実現~

2024-09-17 分子科学研究所 【発表のポイント】 従来、水溶液中でのポルフィリン金属錯体(1)の電子状態解析は困難であったが、軟X線吸収分光(XAS)計測(2)を金属L2,3吸収端と窒素K吸収端で行うことにより、水溶液中での金属錯体...
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