四次元走査透過電子顕微鏡

「原子レベルで薄い」材料の熱膨張を測定する新しい方法を開発(New method developed for measuring thermal expansion in ‘atomically thin’ materials) 1700応用理学一般

「原子レベルで薄い」材料の熱膨張を測定する新しい方法を開発(New method developed for measuring thermal expansion in ‘atomically thin’ materials)

2024-06-28 ロスアラモス国立研究所(LANL) ロスアラモス国立研究所のチームは、原子数層の二次元材料の熱膨張係数を直接測定する方法を開発しました。これにより、マイクロエレクトロニクス技術における熱関連の性能問題を解決する手助けが...
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