半導体材料欠陥解析

原子スケールの欠陥を測定する新しいツールで、トランジスタの限界を特定(New tool measures atomic scale defects, identifies transistor limitations) 0400電気電子一般

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高度な電子デバイスの実現につながる可能性があると研究者が発表 Approach may enable advanced electronic devices, researchers say 2022-05-23 ペンシルベニア州立大学(P...
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