低線量観察

マルチビーム型の電子顕微鏡手法を新たに開発 -少ない測定点から高精細像を短時間で構成することが可能- 0110情報・精密機器

マルチビーム型の電子顕微鏡手法を新たに開発 -少ない測定点から高精細像を短時間で構成することが可能-

2026-04-08 東京科学大学東京科学大学、日本電子、東京大学の研究チームは、マルチビーム電子顕微鏡と圧縮センシングを融合した新たな観察手法を開発した。従来は1点ずつ走査していた電子顕微鏡に対し、本手法では複数ビームを同時照射し、少ない...
ad
タイトルとURLをコピーしました