ミュオンと中性子

大強度陽子加速器施設（J-PARC）物質・生命科学実験施設（MLF）ミュオン科学実験施設（MUSE）の負および正ミュオンビーム、本学研究用原子炉（KUR）の熱中性子ビーム、大阪大学 核物理研究センター（RCNP）の高エネルギー中性子ビームをそれぞれ半導体デバイスに照射することにより、ミュオンと中性子が引き起こすソフトエラーの特徴が異なることを実験的に初めて明らかにした。