ナノスケール計測

光の中で半導体のナノ運動とフォースを読む～光による構造的強さの変化を測るために～

2021-02-18 名古屋大学,科学技術振興機東海国立大学機構名古屋大学大学院工学研究科の中村篤智　准教授、松永克志　教授らの研究グループは、独ダルムシュタット工科大学のＸｕｆｅｉＦａｎｇ　（シューフェイ・ファン）　博士および...

2021-02-18

0403電子応用