ナノスケール二次イオン質量分析法

EPFLの研究者が極低温顕微鏡の新しい地平を切り開く(EPFL scientists unlock new horizons for cryogenic microscopy) 1700応用理学一般

EPFLの研究者が極低温顕微鏡の新しい地平を切り開く(EPFL scientists unlock new horizons for cryogenic microscopy)

2023-06-07 スイス連邦工科大学ローザンヌ校(EPFL) ◆スイスの研究グループがCryoNanoSIMS機を開発し、ナノスケール二次イオン質量分析法を向上させました。この装置は、凍結組織サンプルの化学組成を分析することができます。...
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