デバイス材料内部の電子スピン計測

デバイス材料中の電子スピンの計測時間をＡＩ導入により大幅に短縮～放射光により次世代超高速・省エネ情報デバイス材料の開発に突破口～

2024-09-23 量子科学技術研究開発機構,広島大学,科学技術振興機構本研究成果のポイント次世代超高速・省エネ情報（スピントロニクス）デバイス材料内部の電子スピン計測は、放射光を利用しても非常に長い時間を要し、実用性に乏しいものであ...

2024-09-24

1700応用理学一般