アンドレーエフ反射

半導体を用いて電子１個よりも小さな電荷（分数電荷準粒子）のアンドレーエフ反射を観測することに成功した。これは２次元電子系が低温・強磁場中で示す分数量子ホール状態において、分数電荷準粒子が界面に入射する際、電子が透過し、分数電荷を持つ正孔が反射される現象。